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NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
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GB/T 43313-2023
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碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法
Testing of surface quality and microtube density of polished silicon carbide wafers by confocal differential interference method |
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Issued Date: |
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Implemented Date: |
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Issued by: |
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The Standardization Administration of the People's Republic of China |
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| 標準代碼 |
GB/T 43313-2023 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
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標準中文名稱 |
碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 （英文版） |
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標準英文名稱 |
Testing of surface quality and microtube density of polished silicon carbide wafers by confocal differential interference method |
| 中文版價格 |
每1頁 ￥1元 |
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英文版翻譯費 |
大約每1頁￥100元
(約1,000 漢字) |
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