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NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
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GB/T 43087-2023
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微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for determining interface position in cross-sectional images of layered materials |
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Issued Date: |
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Implemented Date: |
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Issued by: |
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The Standardization Administration of the People's Republic of China |
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| 標準代碼 |
GB/T 43087-2023 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
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標準中文名稱 |
微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 （英文版） |
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標準英文名稱 |
Microbeam analysis Analytical electron microscopy Method for determining interface position in cross-sectional images of layered materials |
| 中文版價格 |
每1頁 ￥1-5元 |
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英文版翻譯費 |
大約每1頁￥100-200元
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