中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法（中英文版） Single-event soft error time domain testing method for semiconductor integrated circuits used in aerospace applications |
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GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法（中英文版） Testing the quality of semiconductor single crystals X-ray diffraction method |
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GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法（中英文版） Semiconductor single crystal crystal orientation determination method |
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GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法（中英文版） Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal |
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GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范（中英文版） Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-11: Digital integrated circuits - Blank detail specification for single supply integrated circuit electrically erasable and programmable read-only memory |
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GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法（中英文版） Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient |
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GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范（中英文版） Semiconductor devices--Discrete devices--Part 8:Field-effect transistors--Section One:Blank detail specification for single-gate field-effect transistors up to 5W and 1GHz |
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