中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 26069-2022 硅单晶退火片（中英文版） Annealed monocrystalline silicon wafers |
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GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片（中英文版） Monocrystalline silicon wafers for solar cells |
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GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片（中英文版） Monocrystalline silicon polished wafers |
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GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片（中英文版） Monocrystalline silicon as cut wafers and lapped wafers |
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GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon for solar cell |
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GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法（中英文版） Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 12962-2015 硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon |
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GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法（中英文版） Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片（中英文版） Polished monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法（中英文版） Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers―Chemically etching |
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GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法（中英文版） Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法（中英文版） Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片（中英文版） 300mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices |
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GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片（中英文版） 300mm polished monocrystalline silicon wafers |
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GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶（中英文版） 300mm monocrystalline silicon |
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GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片（中英文版） Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells |
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GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon of solar cell |
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GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片（中英文版） Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices |
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GB/T 12962-2005 硅单晶（中英文版） Monoccrystalline silicon |
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GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片（中英文版） Monocrystalline silicon polished wafers |
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