中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版 |
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GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務； |
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GB/T 24582-2023 多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法（中英文版） Determination of metal impurity content on polycrystalline silicon surface by acid leaching-inductively coupled plasma mass spectrometry |
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GB/T 29057-2023 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程（中英文版） Procedure for evaluating polycrystalline silicon rods by zone melting and spectroscopic analysis |
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GB/T 26069-2022 硅单晶退火片（中英文版） Annealed monocrystalline silicon wafers |
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GB/T 37896-2019 轻质晶体硅光伏夹层玻璃（中英文版） Lightweight crystalline silicon photovoltaic (PV) laminated glass |
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GB/T 29055-2019 太阳能电池用多晶硅片（中英文版） Multicrystalline silicon wafers for photovoltaic solar cell |
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GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块（中英文版） Casting multicrystalline silicon brick for photovoltaic solar cell |
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GB/T 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法（中英文版） Test method for boron content in polycrystalline silicon by vacuum zone-melting method |
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GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon for solar cell |
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GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片（中英文版） Monocrystalline silicon as cut wafers and lapped wafers |
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GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片（中英文版） Monocrystalline silicon wafers for solar cells |
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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法（中英文版） Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method |
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GB/T 36289.2-2018 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第2部分：氟塑料薄膜（中英文版） Insulating films of crystalline silicon photovoltaic (PV) modules—Part 2:Fluorine plastic films |
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GB/T 36289.1-2018 晶体硅太阳电池组件用绝缘薄膜 第1部分：聚酯薄膜（中英文版） Insulating films of crystalline silicon photovoltaic(PV) modules—Part 1：Polyethylene terephthalate films |
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GB/T 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法（中英文版） Test method for phosphorus content in polycrystalline silicon by zone-melting method under controlled atmosphere |
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GB/T 37240-2018 晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法（中英文版） Test and evaluation methods for light transmission property of cover glass for crystalline silicon photovoltaic module |
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GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片（中英文版） Monocrystalline silicon polished wafers |
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GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅（中英文版） Solar-grade polycrystalline silicon |
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GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法（中英文版） Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method |
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GB/T 32652-2016 多晶硅铸锭石英坩埚用熔融石英料（中英文版） Fused quartz used for quartz ceramic crucibles for casting polycrystalline silicon |
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GB/T 6495.11-2016 光伏器件 第11部分：晶体硅太阳电池初始光致衰减测试方法（中英文版） Photovoltaic devices—Part 11: Test method of initial light-induced degradation of crystalline silicon solar cell |
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GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法（中英文版） Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 12962-2015 硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon |
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GB/T 12963-2014 电子级多晶硅（中英文版） Electronic-grade polycrystalline silicon |
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GB/T 31351-2014 碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法（中英文版） Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片（中英文版） Polished monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 31034-2014 晶体硅太阳电池组件用绝缘背板（中英文版） Insulating back sheet for crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules |
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GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法（中英文版） Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers―Chemically etching |
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GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法（中英文版） Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法（中英文版） Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers |
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GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱（中英文版） Metallographs collection for original defects of crystalline silicon |
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GB/T 29508-2013 300mm 硅单晶切割片和磨削片（中英文版） 300mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices |
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GB/T 29506-2013 300mm 硅单晶抛光片（中英文版） 300mm polished monocrystalline silicon wafers |
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GB/T 29504-2013 300mm 硅单晶（中英文版） 300mm monocrystalline silicon |
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GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程（中英文版） Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy |
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GB/T 29055-2012 太阳电池用多晶硅片（中英文版） Multi-crystalline silicon wafer for solar cell |
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GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块（中英文版） Solar-grade casting multi-crystalline silicon brick |
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GB/T 29195-2012 地面用晶体硅太阳电池总规范（中英文版） General specification of crystalline silicon terrestrial solar cells |
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GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片（中英文版） Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells |
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GB/T 25076-2010 太阳电池用硅单晶（中英文版） Monocrystalline silicon of solar cell |
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GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅（中英文版） Solar-grade polycrystalline silicon |
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GB/T 4061-2009 硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法（中英文版） Polycrystalline silicon-examination method-assessment of sandwiches on cross-section by chemical corrosion |
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GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质（中英文版） Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry |
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GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物（中英文版） Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy |
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GB/T 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法（中英文版） Polycrystalline silicon - examination method - vacuum zone - melting on boron |
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GB/T 4059-2007 硅多晶气氛区熔基磷检验方法（中英文版） Polycrystalline silicon - examination method - zone - melting on phosphorus under controlled atomosphere |
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GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片（中英文版） Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices |
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GB/T 12962-2005 硅单晶（中英文版） Monoccrystalline silicon |
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GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片（中英文版） Monocrystalline silicon polished wafers |
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GB/T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量（中英文版） Crystalline silicon photovoltaic(PV) array--On-site measurement of I-V characteristics |
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GB/T 9535-1998 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型（中英文版） Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules-design qualification and type approval |
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GB/T 6495.4-1996 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法（中英文版） Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices |
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