中華人民共和國國家標準(中國大陸GB標準)英文版
GB標準是中華人民共和國國家標準，也叫GB國標，是中國大陸強制執行的國家標準，所有中國大陸境內銷售的商品及提供服務都必須符合GB國家標準的要求，包括進口商品及服務； 本網站提供GB國家標準的查詢檢索，英文版翻譯，GB標準產品檢測檢驗及合規性分析服務；
　 　 　 　
  GB/T 6609.35-2023
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法（中英文版）
Methods for chemical analysis and determination of physical properties of alumina Part 35: Determination of specific surface area Nitrogen adsorption method
  GB/T 42659-2023
表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准（中英文版）
Surface chemical analysis Scanning probe microscopy Determination of geometric quantities using scanning probe microscopy: Calibration of measurement systems
  GB/T 42658.4-2023
表面化学分析 样品处理、制备和安装指南 第4部分: 报告表面分析前纳米物体相关的来历、制备、处理和安装信息（中英文版）
Surface Chemical Analysis Sample Handling, Preparation and Setup Guide Part 4: Reporting information on the origin, preparation, handling and set-up of nanoobjects prior to surface analysis
  GB/T 22461.1-2023
表面化学分析 词汇 第1部分：通用术语及谱学术语（中英文版）
Surface chemical analysis Glossary Part 1: General and spectroscopic terminology
  GB/T 42543-2023
表面化学分析 扫描探针显微术 悬臂梁法向弹性常数的测定（中英文版）
Surface Chemical Analysis Scanning Probe Microscopy Determination of the Normal Elastic Constant of a Cantilever Beam
  GB/T 22461.2-2023
表面化学分析 词汇 第2部分： 扫描探针显微术术语（中英文版）
Surface chemical analysis - Vocabulary Part 2: Scanning probe microscopy terminology
  GB/T 42360-2023
表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析（中英文版）
Surface Chemical Analysis Total Reflection X-ray Fluorescence Spectroscopy of Water
  GB/T 19502-2023
表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则（中英文版）
Surface chemical analysis—General principles for glow discharge emission spectroscopy methods
  GB/T 40129-2021
表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准（中英文版）
Surface chemical analysis—Secondary ion mass spectrometry—Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer
  GB/T 40128-2021
表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法（中英文版）
Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets
  GB/T 40110-2021
表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染（中英文版）
Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
  GB/T 40109-2021
表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法（中英文版）
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth profiling of boron in silicon
  GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法（中英文版）
Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
  GB/T 41072-2021
表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南（中英文版）
Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Guidelines for ultraviolet photoelectron spectroscopy analysis
  GB/T 29732-2021
表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准（中英文版）
Surface chemical analysis—Medium resolution auger electron spectrometers—Calibration of energy scales for elemental analysis
  GB/T 41073-2021
表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求（中英文版）
Surface chemical analysis -- Electron spectroscopies -- Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy
  GB/T 39527-2020
实体面材产品中钙、铝、硅元素含量的测定 化学分析法（中英文版）
Determination of calcium, aluminium and silicon in the solid surface materials—Method of chemical analysis
  GB/T 36052-2018
表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式（中英文版）
Surface chemical analysis—Data transfer format for scanning probe microscopy
  GB/T 36401-2018
表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告（中英文版）
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis
  GB/T 34326-2017
表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法（中英文版）
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
  GB/T 22571-2017
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准（中英文版）
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Calibration of energy scales
  GB/T 34174-2017
表面化学分析 工作参考物质中离子注入产生的驻留面剂量定值的推荐程序（中英文版）
Surface chemical analysis—Proposed procedure for certifying the retained areic dose in a working reference material produced by ion implantation
  GB/T 33502-2017
表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求（中英文版）
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy（XPS）
  GB/T 33498-2017
表面化学分析 纳米结构材料表征（中英文版）
Surface chemical analysis—Characterization of nanostructured materials
  GB/T 32998-2016
表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求（中英文版）
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
  GB/T 32997-2016
表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程（中英文版）
Surface chemical analysis—General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
  GB/T 32999-2016
表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率（中英文版）
Surface chemical analysis—Depth profiling—Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer
  GB/T 32996-2016
表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜（中英文版）
Surface chemical analysis—Analysis of metal oxide films by glow-discharge optical emission spectrometry
  GB/T 32565-2016
表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求（中英文版）
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
  GB/T 32495-2016
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法（中英文版）
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon
  GB/Z 32494-2016
表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析（中英文版）
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Derivation of chemical information
  GB/Z 32490-2016
表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序（中英文版）
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
  GB/T 30815-2014
表面化学分析 分析样品的制备和安装方法指南（中英文版）
Surface chemical analysis―Guidelines for preparation and mounting of specimens for analysis
  GB/T 30704-2014
表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南（中英文版）
Surface chemical analysis―X-ray photoelectron spectroscopy―Guidelines for analysis
  GB/T 30702-2014
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南（中英文版）
Surface chemical analysis―Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy―Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
  GB/T 30701-2014
表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定（中英文版）
Surface chemical analysis―Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
  GB/T 29731-2013
表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准（中英文版）
Surface chemical analysis - High resolution auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental and chemical-state analysis
  GB/T 29732-2013
表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准（中英文版）
Surface chemical analysis - Medium resolution auger electron spectrometers - Calibration of energy scales for elemental analysis
  GB/T 29556-2013
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定（中英文版）
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
  GB/T 29557-2013
表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量（中英文版）
Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurment of sputtered depth
  GB/T 29559-2013
表面化学分析 辉光放电原子发射光谱 锌和/或铝基合金镀层的分析（中英文版）
Surface chemical analysis - Analysis of zinc and/or aluminium based metallic coatings by glow discharge optical emission spectrometry
  GB/T 29558-2013
表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性（中英文版）
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale
  GB/T 28894-2012
表面化学分析 分析前样品的处理（中英文版）
Surface chemical analysis - Handling of specimens prior to analysis
  GB/T 28893-2012
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息（中英文版）
Surface Chemical Analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
  GB/T 28892-2012
表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述（中英文版）
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy -Description of selected instrumental performance parameters
  GB/T 28633-2012
表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性（中英文版）
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scale
  GB/T 28632-2012
表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定（中英文版）
Surface chemical analysis － Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy － Determination of lateral resolution
  GB/T 25187-2010
表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述（中英文版）
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Description of selected instrumental performance parameters
  GB/T 25186-2010
表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子（中英文版）
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
  GB/T 25185-2010
表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告（中英文版）
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of methods used for charge control and charge correction
  GB/T 6609.35-2009
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法（中英文版）
Chemical analysis methods and determination of physical performance of alumina - Part 35: Determination of specific surface area by nitrogen adsorption
  GB/T 22572-2008
表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法（中英文版）
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
  GB/T 22571-2008
表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准（中英文版）
Surface chemical analysis ?X-ray photoelectron spectrometers ?Calibration of energy scales
  GB/T 22461-2008
表面化学分析 词汇（中英文版）
Surface chemical analysis - Vocabulary
  GB/T 21007-2007
表面化学分析 信息格式（中英文版）
Surface chemical analysis - Information formats
  GB/T 21006-2007
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性（中英文版）
Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
  GB/T 20176-2006
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度（中英文版）
Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
  GB/T 20175-2006
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法（中英文版）
Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
  GB/T?20176-2006
表面化学分析 二次离子质谱 用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度（中英文版）
Surface chemical analysis-Secondary-ion mass spectrometry-Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
  GB/T?20175-2006
表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法（中英文版）
Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials
  GB/T 19499-2004
表面化学分析 数据传输格式（中英文版）
Surface chemical analysis--Data transfer format
  GB/T 19502-2004
表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则（中英文版）
Surface chemical analysis--Glowdischarge optical emission spectrometry(GD-OES)--Introduction to use

找到:62條目   |  [首頁]-[上一頁]-[下一頁]-[尾頁]  | 去到: 1

　


安杰信控股旗下机构
© 2001-2016 版权所有
 深圳市安杰信科技有限公司技术支持
粤ICP备16023696号-5 
查询检索服务
 
付费服务项目 由第三方机构提供
 
使用者指南
 
关于我们
  • 商品HS编码归类
  • 进出口关税查询
  • 进出口监管查询
  • 中国国标检索
  • 中外买家信息
  • 申报指南
  • 海外厂家及出口商注册备案
  • 产品上市前预审批项目
  • 中文标识规范及备案
  • 产品配方符合性审查
  • 产品质量符合性检测
  • 海关预申报及清关
  • 会员登入
  • 新用户注册
  • 我要咨询
  • 会员权益
  • 价格及支付方式
  • 常见问题
  • 关于跨关通
  • 隐私保护政策
  • 用户使用条件
  • 我们招募中!
  • 联系我们

    		•